椭圆偏振和反射法测试膜厚方法的区别选用Si3N4薄膜和Zr O薄膜两种光学材料作为测试对象以研究椭圆偏振法测量薄膜厚度的精度。实验结果表明，椭圆偏振法的精度较高，但对于数量级在几十个nm的光学薄
椭圆偏振法测薄膜厚度测量时，投射到样品的入射光的入射角是多少度 椭圆偏振反射测试膜厚区别选用Si3N4薄膜Zr O薄膜两种光材料作测试象研究椭圆偏振测量薄膜厚度精度实验结表明，椭圆偏振精度较高，于数量级几十nm光薄
线偏振光垂直入射到二分之一或四分之一波片后，偏振状态怎么变化？ 线偏振光经过二分之一波片 还是线偏振光 但是偏振方向与原偏振方向垂直经过四分之一玻片后 变为椭圆偏振光
什么是光学1/4波片 四分之一波片（quarter-wave plate）是一定厚度的双折射单晶波片。当光从法向入射透过波片时，寻常光（o光）和非常光（e光）之间的位相差等于 π/2或其奇数倍，这样的晶片。
跪求用椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率的实验数据 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用.因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一.椭偏法测量具有如下特点：能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便.可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数.因此可以作为分析工具使用.对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感.是研究表面物理的一种方法椭偏仪的光路图椭偏仪的基本原理入射光的P分量入射光的S分量反射光的P分量和S分量的比值—椭圆参量r=RP/Rs=tanyexp(iD)=f(n1，n2，n3，f1，d，l）
怎样用1/4波片产生椭圆偏振光和圆偏振光？ 必须用1/4波片，首先用偏振片得到线偏光，放入1/4波片，旋转波片，让光轴和偏振光的振动方向成45度角，则得到圆偏光，如果二者是平行或者垂直（夹角0度或者90度），则得到。
椭圆偏振光的详细介绍 自然光在晶体内所产生的寻常光（o光）和非常光（e光），虽属频率相同和振动方向相互垂直，但是，它们之间的位相差，即使在同一点，亦因时而异，不是固定的，所以这样的o光和e光的合成不能产生椭圆偏振光。然而，如果以一线偏振光代替自然光射到如图1所示的、光轴平行于晶面的单轴晶体的表面，并且令其振动平面与晶体光轴成一夹角θ，于是，在晶体表面上，振幅为A的线偏振光分解为振幅为Asinθ的o光和振幅为Acosθ的e光，并且此时o光和e光有相同的位相。当进入晶体内，o光和e光虽在相同的方向传播，但是传播速度不同，因而产生位相差。式中n0和ne分别为该晶体对在真空中波长为λ0的o光和e光的主折射率，d为两者透过晶体的厚度。图2给出了由穿过不同厚度的o光和e光合成的光矢量末端的轨迹，除 δ=0和π外，都是椭圆形。这样的光就是椭圆偏振光，显然δ=0和π所对应的线偏振光可视为椭圆偏振光的特例；不难想到，当θ=45°时，与δ=π/2和3π/2对应的是圆偏振光。所以，图1所示的系统即为产生椭圆偏振光或圆偏振光的简单装置。
