东芝、日本同步辐射研究所和日本东北大学的研究人员宣布，他们以100亿分之1秒的精度成功实现了硬盘读写头的磁化行为可视化。 东芝将把这种分析技术应用于下一代硬盘技术 "能量辅助磁记录 "的写头开发。
物联网时代全面到来，数据量将成倍扩大。 在这种情况下，作为主要存储设备的机械式硬盘也需要有更高的容量和更快的数据传输速率。 实现这一目标的关键设备之一是读写头。 然而，到目前为止，唯一它的估计方法是使用磁化行为模拟和间接分析。
SPring-8大型同步辐射设施
在这项研究中，东芝、日本同步辐射研究所和日本东北大学利用安装在“SPring-8大型同步辐射设施”的BL25SU光束线上的扫描X射线磁圆二色显微镜，开发了一种新的分析方法，以准确测定机械硬盘的读写头行为。
具体来说，通过将时序控制与SPring-8的存储环周期性产生的X射线脉冲同步，并以1/10的周期逆转读写头的磁化，实现了时间分辨测量。 通过改进收集X射线的元件，可以进一步提高分辨率。
利用新开发的方法，日本研究人员分析了读写头反转时磁化的变化。 结果证实，主磁极部分的磁化反转是在1纳秒(十亿分之一秒)内完成的。 此外，他们还能够观察到主磁极部分的磁化反转在屏蔽部分产生的磁化空间模式。
