某种电子元件的寿命服从均值为 100（小时)的指数分布，现随机抽取16只，设它们的寿命是相互独立的， E(Xi)是第Xi只的期望值（就是希望它能达到的寿命）；D(Xi）是第Xi只方差（就是它的实际寿命与期望值之差的平方）。具体的说E（Xi）=100，就是期望值=100.D(Xi)=1000说明这个元器件的波动情况，（例如：有的元器件的寿命可以达到130，这样方差D(Xi)=(130-100)^2=900这样说明它离我们的期望值得远近程度（也就是波动情况））如果还不知道，请去借《概率论与统计》这本书！那里面写的很清楚！
求助！关于寿命试验的，电子元器件的或者其他东西的都行，谁知道现在寿命试验模型或者寿命评估结果与实际 寿命试验机是试验机其中一类用来试验或验证产品设备在特定的环境模拟下能否适于使用、有效完成其功能的时间、有效使用次数、及检测出其老化疲劳值的试验机（也就是检测出产品设备在正常工作或加速工作状态下的极限“保质期”）。
电子原件的寿命因何结束？ 一直有个很奇怪的想法，如果说电子元件是电流通过不同的电子配件产生反应而进行运算，那么配件岂不是应该…
